MMÜ773 - YAPISAL TANIMLAMA TEKNİKLERİ
| Dersin Adı | Kodu | Yarıyılı | Teori (saat/hafta) |
Uygulama (saat/hafta) |
Yerel Kredi | AKTS |
|---|---|---|---|---|---|---|
| YAPISAL TANIMLAMA TEKNİKLERİ | MMÜ773 | Herhangi Yarıyıl/Yıl | 3 | 0 | 3 | 10 |
| Önkoşul(lar)-var ise | ||||||
| Dersin Dili | İngilizce | |||||
| Dersin Türü | Seçmeli | |||||
| Dersin verilme şekli | Yüz yüze | |||||
| Dersin öğrenme ve öğretme teknikleri | Tartışma Uygulama-Alıştırma Diğer: Bireysel çalışma. Ev ödevleri. | |||||
| Dersin sorumlusu(ları) | Bölüm Öğretim Üyeleri | |||||
| Dersin amacı | Bu dersin amacı öğrencilere, malzemeleri mikro, nano ve atomik ölçekte tanımlamakta kullanılan çağdaş deneysel teknikleri öğretmektir. | |||||
| Dersin öğrenme çıktıları |
| |||||
| Dersin içeriği | Elektron mikroskopisi (SEM/TEM); toz XRD ve Rietveld yapı çözümleme; XPS, AES, SIMS, NMR, FTIR, Raman, EELS, EXAFS gibi spektroskopik teknikler çalışma prensipleri ve uygulamaları örnek vaka analizleriyle incelenecektir. | |||||
| Kaynaklar | F. Donald Bloss: Crystallography and crystal chemistry, Holt, Rinehart and Winston, NY, 1994. B.D. Cullity: Elements of X-Ray Diffraction, Prentice Hall, 2001. David B. Williams, C. Barry Carter: Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science 4 vol., Springer, NY, 2004. Joseph Goldstein et. al.: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, NY, 2003. J. P. Sibilia: A Guide to Materials Characterization and Chemical Analysis, Wiley-VCH, 2001. Witold Lojkowski, Rasit Turan, Ana Proykova, Agnieszka Daniszewska: Eighth Nanoforum Report: Nanometrology, nanoforum.org, 2006. İlgili makaleler ve yazılımlar. | |||||
Haftalara Göre İşlenecek Konular
| Haftalar | Konular |
|---|---|
| 1. Hafta | Giriş |
| 2. Hafta | Elektron mikroskopisi: temel prensipler |
| 3. Hafta | Elektron mikroskopisi: SEM/TEM uygulamaları |
| 4. Hafta | Elektron mikroskopisi: SEM/TEM uygulamaları |
| 5. Hafta | X-Işını |
| 6. Hafta | Rietveld yapı çözümleme |
| 7. Hafta | Rietveld yapı çözümleme |
| 8. Hafta | Ara Sınav I, Taramalı Uç Teknikleri |
| 9. Hafta | Spektroskopi: FTIR, Raman |
| 10. Hafta | Spektroskopi: XPS, SIMS, NMR |
| 11. Hafta | Spektroskopi: AES, EELS, EXAFS |
| 12. Hafta | Ara Sınav II |
| 13. Hafta | Yapısal Analiz ? Örnek vaka incelemesi |
| 14. Hafta | Yapısal Analiz ? Örnek vaka incelemesi |
| 15. Hafta | |
| 16. Hafta | Genel sınav |
Değerlendirme Sistemi
| Yarıyıl içi çalışmaları | Sayısı | Katkı Payı % |
|---|---|---|
| Devam (a) | 1 | 5 |
| Laboratuar | 0 | 0 |
| Uygulama | 4 | 10 |
| Alan Çalışması | 0 | 0 |
| Derse Özgü Staj (Varsa) | 0 | 0 |
| Ödevler | 8 | 15 |
| Sunum | 0 | 0 |
| Projeler | 0 | 0 |
| Seminer | 0 | 0 |
| Ara Sınavlar | 2 | 30 |
| Genel sınav | 1 | 40 |
| Toplam | 100 | |
| Yarıyıl İçi Çalışmalarının Başarı Notuna Katkısı | 15 | 60 |
| Yarıyıl Sonu Sınavının Başarı Notuna Katkısı | 1 | 40 |
| Toplam | 100 | |
AKTS (Öğrenci İş Yükü) Tablosu
| Etkinlikler | Sayısı | Süresi | Toplam İş Yükü |
|---|---|---|---|
| Ders Süresi | 14 | 3 | 42 |
| Laboratuvar | 0 | 0 | 0 |
| Uygulama | 4 | 4 | 16 |
| Derse özgü staj (varsa) | 0 | 0 | 0 |
| Alan Çalışması | 0 | 0 | 0 |
| Sınıf Dışı Ders Çalışma Süresi (Ön Çalışma, pekiştirme, vb) | 14 | 12 | 168 |
| Sunum / Seminer Hazırlama | 0 | 0 | 0 |
| Proje | 0 | 0 | 0 |
| Ödevler | 7 | 6 | 42 |
| Ara sınavlara hazırlanma süresi | 2 | 10 | 20 |
| Genel sınava hazırlanma süresi | 1 | 12 | 12 |
| Toplam İş Yükü | 42 | 47 | 300 |
Dersin Öğrenme Çıktılarının Program Yeterlilikleri İle İlişkilendirilmesi
| D.9. Program Yeterlilikleri | Katkı Düzeyi* | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | |
| 1. Makina mühendisliğinin farklı alanlarında bilgilerini uzmanlık düzeyinde geliştirebilecek ve derinleştirebilecek kuramsal ve uygulamalı bilgilere sahip olacaktır. | X | ||||
| 2. Bilim ve teknolojiye yenilik getirecek bilgi, beceri ve yetkinliğe sahip olur. | X | ||||
| 3. Temel bilimler ve mühendislik bilimlerinin yöntemlerini karmaşık problemlerin çözümünde kullanır. | X | ||||
| 4. Akademik çalışmalarının çıktılarını yayınlayarak bilim ve teknoloji literatürüne katkıda bulunur. | X | ||||
| 5. Bilime veya teknolojiye yenilik getiren, yeni bir bilimsel yöntem veya teknolojik ürün/süreç geliştiren ya da bilinen bir yöntemi yeni bir alana uygulayan kapsamlı bir çalışma yapar. | X | ||||
| 6. Özgün bir araştırmayı bağımsız olarak baştan sona yürütebilir. | X | ||||
| 7. Mühendislik uygulamalarında karşılaşılan ve öngörülemeyen karmaşık sorunların çözümü için yeni stratejik yaklaşımlar geliştirebilecek ve sorumluluk alarak çözüm üretebilir. | X | ||||
| 8. Makina mühendisliği içinde uzmanlaştığı alanda karşılaştığı sorunların çözümlenmesini gerektiren ortamlarda liderlik yapabilir. | X | ||||
| 9. Makina Mühendisliği ile ilgili güncel gelişmeleri etkin bir şekilde izlemede yaşam boyu öğrenme felsefesinin ve olanaklarının farkındadır. | X | ||||
| 10. Çalışmalarını yazılı veya sözlü olarak etkin biçimde, Türkçe veya İngilizce sunar. | X | ||||
| 11. Bilimsel literatürü takip eder, yorumlar ve mühendislik problemlerinin çözümünde etkin olarak kullanır. | X | ||||
| 12. Çalıştığı ve uzmanlaştığı alanının gerektirdiği düzeyde bilgisayar yazılımı ile birlikte bilişim ve iletişim teknolojilerini ileri düzeyde kullanabilecektir. | X | ||||
| 13. Toplumsal sorumluluğunun farkındadır, bilimsel ve teknolojik gelişmeleri bilimsel tarafsızlık ilkesi ve etik sorumluluk bilinciyle değerlendirir. | X | ||||
| 14. Alanında özümsediği bilgiyi, problem çözme ve/veya uygulama becerilerini, disiplinlerarası çalışmalarda kullanabilecektir. | X | ||||
*1 En düşük, 2 Düşük, 3 Orta, 4 Yüksek, 5 Çok yüksek