MMÜ673 - MALZEME TANIMLAMA TEKNİKLERİ
| Dersin Adı | Kodu | Yarıyılı | Teori (saat/hafta) |
Uygulama (saat/hafta) |
Yerel Kredi | AKTS |
|---|---|---|---|---|---|---|
| MALZEME TANIMLAMA TEKNİKLERİ | MMÜ673 | Herhangi Yarıyıl/Yıl | 3 | 0 | 3 | 8 |
| Önkoşul(lar)-var ise | yok | |||||
| Dersin Dili | Türkçe | |||||
| Dersin Türü | Seçmeli | |||||
| Dersin verilme şekli | Yüz yüze | |||||
| Dersin öğrenme ve öğretme teknikleri | Anlatım Tartışma Uygulama-Alıştırma Diğer: ödev, bireysel çalışma, erişim bulunan tanımlama cihazlarında uygulama. | |||||
| Dersin sorumlusu(ları) | Yrd. Doç. Dr. Bora Maviş ve Yrd. Doç. Dr. Benat Koçkar | |||||
| Dersin amacı | Bu dersin amacı öğrencilere, malzemeleri mikro, nano ve atomik ölçekte tanımlamakta kullanılan çağdaş deneysel teknikleri öğretmektir. | |||||
| Dersin öğrenme çıktıları |
| |||||
| Dersin içeriği | Elektron mikroskopisi (SEM/TEM); parça boyut, özgül yüzey alanı ve zeta potansiyel ölçümleri; toz XRD ve Rietveld yapı çözümleme; taramalı uç, sinkotron ışınımı (SAXS için) ve XPS, AES, SIMS, NMR, FTIR, Raman, EELS, EXAFS gibi spektroskopik teknikler; ısıl analiz; nanomekanik testler (nanoçentikleme, nanoölçekte aşınım ve çizme testleri, nano-bükme ve kırma testleri), çalışma prensipleri ve uygulamaları ağırlıkta olmak üzere incelenecektir. | |||||
| Kaynaklar | F. Donald Bloss: Crystallography and crystal chemistry, Holt, Rinehart and Winston, NY, 1994. / B.D. Cullity: Elements of X-Ray Diffraction, Prentice Hall, 2001. / David B. Williams, C. Barry Carter: Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science 4 vol., Springer, NY, 2004. / Joseph Goldstein et. al.: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, NY, 2003. / J. P. Sibilia: A Guide to Materials Characterization and Chemical Analysis, Wiley-VCH, 2001. / Witold Lojkowski, Rasit Turan, Ana Proykova, Agnieszka Daniszewska: Eighth Nanoforum Report: Nanometrology, nanoforum.org, 2006. / İlgili makaleler ve yazılımlar. | |||||
Haftalara Göre İşlenecek Konular
| Haftalar | Konular |
|---|---|
| 1. Hafta | Giriş |
| 2. Hafta | Elektron mikroskopisi: temel prensipler |
| 3. Hafta | Elektron mikroskopisi: SEM/TEM uygulamaları |
| 4. Hafta | Parçacık Tanımlama Yöntemleri: boyut ve dağılım |
| 5. Hafta | Parçacık Tanımlama Yöntemleri: yüzey alanı ve zeta potansiyeli |
| 6. Hafta | X-Işını ve Sinkotron Işınım Teknikleri |
| 7. Hafta | Rietveld yapı çözümleme |
| 8. Hafta | Ara Sınav I, Taramalı Uç Teknikleri |
| 9. Hafta | Spektroskopi: FTIR, Raman |
| 10. Hafta | Spektroskopi: XPS, SIMS, NMR |
| 11. Hafta | Spektroskopi: AES, EELS, EXAFS |
| 12. Hafta | Ara Sınav II, Isıl Analiz |
| 13. Hafta | Isıl Analiz |
| 14. Hafta | Nanomeknik testler |
| 15. Hafta | |
| 16. Hafta | Genel sınav |
Değerlendirme Sistemi
| Yarıyıl içi çalışmaları | Sayısı | Katkı Payı % |
|---|---|---|
| Devam (a) | 1 | 5 |
| Laboratuar | 0 | 0 |
| Uygulama | 4 | 10 |
| Alan Çalışması | 0 | 0 |
| Derse Özgü Staj (Varsa) | 0 | 0 |
| Ödevler | 8 | 15 |
| Sunum | 0 | 0 |
| Projeler | 0 | 0 |
| Seminer | 0 | 0 |
| Ara Sınavlar | 2 | 30 |
| Genel sınav | 1 | 40 |
| Toplam | 100 | |
| Yarıyıl İçi Çalışmalarının Başarı Notuna Katkısı | 15 | 60 |
| Yarıyıl Sonu Sınavının Başarı Notuna Katkısı | 1 | 40 |
| Toplam | 100 | |
AKTS (Öğrenci İş Yükü) Tablosu
| Etkinlikler | Sayısı | Süresi | Toplam İş Yükü |
|---|---|---|---|
| Ders Süresi | 14 | 3 | 42 |
| Laboratuvar | 0 | 0 | 0 |
| Uygulama | 4 | 2 | 8 |
| Derse özgü staj (varsa) | 0 | 0 | 0 |
| Alan Çalışması | 0 | 0 | 0 |
| Sınıf Dışı Ders Çalışma Süresi (Ön Çalışma, pekiştirme, vb) | 14 | 9 | 126 |
| Sunum / Seminer Hazırlama | 0 | 0 | 0 |
| Proje | 0 | 0 | 0 |
| Ödevler | 8 | 4 | 32 |
| Ara sınavlara hazırlanma süresi | 2 | 10 | 20 |
| Genel sınava hazırlanma süresi | 1 | 12 | 12 |
| Toplam İş Yükü | 43 | 40 | 240 |
Dersin Öğrenme Çıktılarının Program Yeterlilikleri İle İlişkilendirilmesi
| D.9. Program Yeterlilikleri | Katkı Düzeyi* | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | |
*1 En düşük, 2 Düşük, 3 Orta, 4 Yüksek, 5 Çok yüksek